為了推動射頻微波測試與測量技術的發(fā)展，適應客戶的測試應用需求變化，使優(yōu)秀的測試測量產品充分結合并服務于用戶的實際使用，R&S公司特舉辦2009年射頻微波測量儀器應用有獎征文競賽，旨在為廣大行業(yè)用戶搭建一個溝通與交流的平臺，分享和傳播知識經驗。
本次征文面向中國大陸從事電子測量及相關行業(yè)從業(yè)人員。但是不包括R&S員工及其親屬，也不包括R&S的供應商和渠道伙伴。征文時間從2009年1 月 12 日至2009年5月31日，2009年 6月底公布評選結果。頒獎儀式具體時間及地點另行通知。
本次征文范圍廣泛，用戶可結合R&S射頻微波儀器的實際應用情況，在各個領域，例如但不限于電子設計應用、信號產生以及偵測和分析、器件和材料的測量、儀器計量技術、基于儀器遠程控制的軟件開發(fā)等撰寫案例。征文可涉及的R&S射頻微波儀器主要有：函數(shù)/任意波形發(fā)生器、信號源、衰落模擬器、頻譜分析儀、信號分析儀、相位噪聲分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、測量接收機、矢量網絡分析儀、功率計等。
R&S公司將邀請行業(yè)專家共同參與稿件評選，獲獎者將得到獲獎證書以及獎品。同時，獲獎稿件將擇優(yōu)在專業(yè)期刊上刊發(fā)。
本次征文獎項為：
一等獎 1 名；獎勵價值6000元的獎品
二等獎 3 名；獎勵價值4000元的獎品
三等獎若干名：獎勵價值1000元的獎品。
本次活動不收取參賽者任何費用。如果您對本次有獎征文活動有任何問題，請聯(lián)系800-810-8228，或者E-mail: VAS.China@rohde-schwarz.com。
征文及投稿要求詳見R&S公司中文網站www.rohde-schwarz.com.cn
