建立一個(gè)新的工程在從vivado中導(dǎo)出硬件描述文件后,下一步就是建立并初始化新的Petalinux工程。petalinux-create工具用于穿件基本工程目錄:petalinux-create - -type proj
雙饋風(fēng)力發(fā)電機(jī)組是目前風(fēng)電領(lǐng)域的主流機(jī)型,在已安裝的風(fēng)力發(fā)電機(jī)中,70%以上都是雙饋系統(tǒng)。對變流器而言,雙饋系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)是只有部分功率流過變流器,且有功和無功可以
一。什么是 二。ADC的特點(diǎn) ADC的位數(shù)決定了ADC的精度,有8位的,12位的,16位的等。還有一個(gè)很重要的參數(shù)就是轉(zhuǎn)換時(shí)間。STM32f103RBT6有2個(gè)ADC控制器。128KFlash,20KRAM
最近在看數(shù)據(jù)手冊的時(shí)候,發(fā)現(xiàn)在Cortex-M3里,對于GPIO的配置種類有8種之多:(1)GPIO_Mode_AIN 模擬輸入(2)GPIO_Mode_IN_FLOATING 浮空輸入(3)GPIO_Mode_IPD 下拉輸入(4)GP
一些嵌入式系統(tǒng)使用多任務(wù)的操作和控制。這些系統(tǒng)必須提供一種機(jī)制來保證正在運(yùn)行的任務(wù)不破壞其他任務(wù)的操作。即要防止系統(tǒng)資源和其他一些任務(wù)不受非法訪問。嵌入式系統(tǒng)有
ARM有37個(gè)寄存器,其中31個(gè)通用寄存器,6個(gè)狀態(tài)寄存器。本文主要討論的是ARM體系的CPU的7種工作模式。一、存儲器格式(字對齊)Arm體系結(jié)構(gòu)將存儲器看做是從零地址開始的字節(jié)
2016 年,不斷擴(kuò)大的大電流、低壓數(shù)字 IC 市場規(guī)模達(dá)到了 92 億美元 [數(shù)據(jù)來源:Intense Research 公司]。這類數(shù)字 IC 包括微控制器和微處理器 (μC 和 μP)、可編程邏輯器件 (PLD)、數(shù)字信號處理器 (DSP)、專用集成電路 (ASIC)、和圖形處理器單元 (GPU)。此外,我們來看一下對這個(gè)市場中一個(gè)較大的細(xì)分市場 —— 現(xiàn)場可編程門陣列 (FPGA) IC 的預(yù)期,2014 年,這個(gè)細(xì)分市場的規(guī)模為 39.2 億美元,預(yù)計(jì)到 2022 年將達(dá)到 72.3 億美元,從
對于高速的串行總線來說,一般情況下都是通過數(shù)據(jù)編碼把時(shí)鐘信息嵌入到傳輸?shù)臄?shù)據(jù)流里,然后在接收端通過時(shí)鐘恢復(fù)把時(shí)鐘信息提取出來,并用這個(gè)恢復(fù)出來的時(shí)鐘對數(shù)據(jù)進(jìn)行采
一、示波器探頭結(jié)構(gòu)1.探頭結(jié)構(gòu)以日常使用較多的LP-16BX探頭為例,其典型結(jié)構(gòu)如圖1所示,它的一端具有一個(gè)掛鉤,檢測波形時(shí)可以鉤到電路的元件引腳上,掛鉤外有一個(gè)護(hù)套,內(nèi)
集成穩(wěn)壓器又稱集成穩(wěn)壓電源,電路形式大多采用串聯(lián)穩(wěn)壓方式。集成穩(wěn)壓器與分立元件穩(wěn)壓器相比具有外接元件少、使用方便、性能穩(wěn)定、價(jià)格低廉等優(yōu)點(diǎn),因而得到了廣泛應(yīng)用。
本文主要討論了半導(dǎo)體分立器件參數(shù)的脈沖測試技術(shù),在這里我們能了解 脈沖測試的必要性是什么,它的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)又是什么,實(shí)現(xiàn)脈沖測試的方法又是什么。一、脈沖測試的必要性半
溫補(bǔ)晶振即溫度補(bǔ)償晶體振蕩器(TCXO),是通過附加的溫度補(bǔ)償電路使由周圍溫度變化產(chǎn)生的振蕩頻率變化量削減的一種石英晶體振蕩器。溫補(bǔ)晶振術(shù)語來自石英晶體振蕩器的一種補(bǔ)
導(dǎo)線、線束、熔斷器、插接器、各種開關(guān)和繼電器等他們都屬于汽車電路的基本元件,汽車電路的基本組成部分。今天小編就來普及一下他們的基本知識。1.導(dǎo)線導(dǎo)線有低壓導(dǎo)線和高
ESR是Equivalent Series Resistance三個(gè)單詞的縮寫,翻譯過來就是“等效串聯(lián)電阻”。 理論上,一個(gè)完美的電容,自身不會產(chǎn)生任何能量損失,但是實(shí)際上,因?yàn)橹圃?/p>
ADC靜態(tài)測試的方法已研究多年,國際上已有標(biāo)準(zhǔn)的測試方法,但靜態(tài)測試不能反映ADC的動(dòng)態(tài)特性,因此有必要研究動(dòng)態(tài)測試方法?動(dòng)態(tài)特性包括很多,如信噪比(SNR)?信號與噪聲+失