1 充分了解各方的設(shè)計需求,確定合適的解決方案啟動一個硬件開發(fā)項目,原始的推動力會來自于很多方面,比如市場的需要,基于整個系統(tǒng)架構(gòu)的需要,應(yīng)用軟件部門的功能實現(xiàn)需要,提高系統(tǒng)某方面能力的需要等等,所以
摘 要:結(jié)合汽車智能燈控模塊設(shè)計的項目實踐,詳細介紹了LIN總線技術(shù)在燈控模塊中的應(yīng)用,并給出了LIN總線的硬件接口電路設(shè)計和軟件設(shè)計思想。關(guān)鍵詞:LIN總線技術(shù);C167CS微控制器;收發(fā)器引言隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的不
1 引言電源適配器是小型便攜式電子設(shè)備及電子電器的供電電源變換設(shè)備, 隨著蜂窩電話、筆記本電腦等便攜式設(shè)備用戶的迅速增加,低壓小功率電源適配器應(yīng)用越來越廣泛。研究人員和商家不斷推出成本更低、體積更小、重量
摘要::電力電子電路PCB的布線在很大程度上決定了最終產(chǎn)品的好壞。本文主要分析了常用電力電子電路的PCB布線的幾個關(guān)鍵技術(shù),主要包括開關(guān)節(jié)點問題,PCB布線的寬度、厚度和電感的關(guān)系,關(guān)鍵走線如何處理,多層板的地
摘要:介紹了四象限變流器的工作原理,并在此基礎(chǔ)上推導(dǎo)出四象限變流器的數(shù)學(xué)模型。通過四象限變流器雙閉環(huán)直接電流控制的數(shù)學(xué)模型搭建了仿真框架,最后通過MATLAB/Simulink進行了仿真研究,結(jié)果表明基于雙閉環(huán)直接電
摘要:本文對正確選擇與應(yīng)用好便攜式電子備中電池技術(shù)作研討,并以應(yīng)用舉例作分析. 敘詞:電池充電算法 鋰離子電池 電量檢測 前言 如今的便攜式電子備中電池技術(shù)包括電量檢測算法、電池充電算法與電池充電技術(shù)等幾個
摘要:隨著電子技術(shù)的不斷進步,開關(guān)電源向高頻化、高效化方向迅猛發(fā)展,EMI抑制已成為開關(guān)電源設(shè)計的重要指標。本文結(jié)合開關(guān)電源中開關(guān)管及二極管EMI產(chǎn)生機理,列舉出:并接吸收電路、串接可飽和磁芯線圈、傳統(tǒng)準諧振
摘要:為了使無刷直流電機長期穩(wěn)定運行,采用加保護電路的方法使其正常工作,保護電路主要由欠壓保護、過流保護、短路保護等組成,在軟件里設(shè)置電壓、電流的閾值,直接對電壓、電流進行檢測并產(chǎn)生相應(yīng)的保護,以免對
摘要:采用全橋雙向電流源高頻鏈逆變器的拓撲結(jié)構(gòu),并對此逆變系統(tǒng)進行了研究和設(shè)計。該逆變器以TI公司生產(chǎn)的TMS320F2812芯片為控制核心,詳細介紹了DSP外圍調(diào)理電路的硬件設(shè)計方案及軟件實現(xiàn)方式,在采用電壓瞬時值
摘要:通過對所需求電源的分析,結(jié)合嵌入式控制技術(shù),提出了一種基于S3C2440的測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源解決方案,以及實現(xiàn)該方案所采用的方法。該系統(tǒng)基于ARM控制技術(shù),對數(shù)據(jù)進行采樣,運用適當?shù)乃惴ㄟM行電壓調(diào)節(jié)和電
隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,一方面,造成電能質(zhì)量問題的因素不斷增長,如以電力電子裝置為代表的非線性負荷的使用、各種大型用電設(shè)備的啟停等;另一方面,各種復(fù)雜的、精密的、對電能質(zhì)量敏感的用電設(shè)備不斷普及,人們
大功率LED照明解決方案的開發(fā)廠家目前遇到的最大設(shè)計挑戰(zhàn)是散熱設(shè)計和過熱保護,他們必須攻克LED光源對熱敏感性強的難題,因為熱量過多或應(yīng)用不當都會使LED光源的性能大打折扣。 理論和實踐都已經(jīng)證明,LED的性能和壽
一、IGBT溉述正常IGBT的工作頻率在10—20kHz,其開關(guān)速度比GTO、IGCT快得多。在交流電動機變頻調(diào)速中,它是較好的選擇。它在中小容量裝置中淘汰功率雙極晶體管(GTR)已成定論。IEGT在高電壓領(lǐng)域中保持快速開關(guān)特
本文介紹了Silicon Labs公司新型Precision32單片機產(chǎn)品.該公司首次推出的32位MCU.除了具有兼容ARM的cPU之外,芯片還集成USB和多種模擬組件,以及常見的Flash閃存、SRAM,定時器和串行接口等。本文由Silicon Labs贊助
電解電容會隨時間而泄漏。圖1中的電路可以用來測試電容,決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測試,從1nF的陶瓷電容,到1000μF的電解電容。電路中,