在電子產(chǎn)品開發(fā)的實踐過程中,往往會碰到很多干擾方面的問題,這些問題對產(chǎn)品的可靠性和性能指標(biāo)都會產(chǎn)生嚴(yán)重影響,同時需要大量時間和資源去進行排查修正,成為產(chǎn)品量產(chǎn)的瓶頸。在測試測量產(chǎn)品設(shè)計中,共地干擾就是較為常見的一類干擾。
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