我曾經(jīng)一篇與LPDDR內(nèi)存有關(guān)的文章中談到了觀測(cè)點(diǎn)精度對(duì)提供堅(jiān)實(shí)的信號(hào)采集平臺(tái)的重要意義。隨著芯片設(shè)計(jì)的尺寸越來(lái)越小、時(shí)鐘頻率越來(lái)越高,牢牢把握上述原則對(duì)準(zhǔn)確地進(jìn)行物理層電接口驗(yàn)證和一致性測(cè)試變得越發(fā)重要
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