-
內(nèi)徑測(cè)量原理及理論基礎(chǔ)
對(duì)內(nèi)徑尺寸的測(cè)量，國(guó)內(nèi)目前測(cè)量的方法多以接觸式測(cè)量為主。但接觸式測(cè)量由于測(cè)量工具磨損、人為因素等原因造成測(cè)量誤差較大，不能滿足快速、精確的內(nèi)徑尺寸檢測(cè)要求。本文采用光三角測(cè)量原理，結(jié)合半導(dǎo)
對(duì)內(nèi)徑尺寸的測(cè)量，國(guó)內(nèi)目前測(cè)量的方法多以接觸式測(cè)量為主。但接觸式測(cè)量由于測(cè)量工具磨損、人為因素等原因造成測(cè)量誤差較大，不能滿足快速、精確的內(nèi)徑尺寸檢測(cè)要求。本文采用光三角測(cè)量原理，結(jié)合半導(dǎo)
本站介紹 | 申請(qǐng)友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠(chéng)聘英才
ICP許可證號(hào)：京ICP證070360號(hào) 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報(bào)窗口（ 郵箱：macysun@21ic.com ）
