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光電耦合器可靠性測(cè)試：加速壽命試驗(yàn)與失效分析方法
光電耦合器作為實(shí)現(xiàn)電氣隔離的核心器件，其可靠性直接影響工業(yè)控制、新能源汽車、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域的系統(tǒng)穩(wěn)定性。然而，傳統(tǒng)測(cè)試方法需數(shù)年才能完成壽命驗(yàn)證，加速壽命試驗(yàn)（ALT）與失效分析技術(shù)的結(jié)合，已成為縮短研發(fā)周期、提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵手段。
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