直流電子負(fù)載應(yīng)用量很大,其主要通過(guò)模擬實(shí)物負(fù)載和負(fù)載波形,既可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電源供應(yīng)器規(guī)格特性的測(cè)試,也可作為ATE或ATS系統(tǒng)的組成單元,在線對(duì)充電器、蓄電池等的壽命特性及功率電子元器件的參數(shù)特性進(jìn)行測(cè)試。
泰克全棧式電源測(cè)試解決方案來(lái)襲,讓AI數(shù)據(jù)中心突破性能極限
C 語(yǔ)言靈魂 指針 黃金十一講 之(3)
ARM開(kāi)發(fā)進(jìn)階:深入理解調(diào)試原理
深度剖析 C 語(yǔ)言 結(jié)構(gòu)體/聯(lián)合/枚舉/位域:鉑金十三講 之 (11)
零基礎(chǔ)電路學(xué)(上部)
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