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光電倒置開(kāi)關(guān)及其可靠性檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
引言 存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)的上電方式是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。許多測(cè)試都是在保溫一定時(shí)間后進(jìn)行的，而測(cè)試裝置都是在保溫前放到被測(cè)物體中，這就要求在保溫過(guò)程中使測(cè)試裝置的功耗降到最低，倒置開(kāi)關(guān)的作用就
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新型單片機(jī)ADμC812在存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用
1 引言ADμC812是美國(guó)ADI(Analog Devicelnc)公司生產(chǎn)的高性能單片機(jī)，是全集成的12位數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。它在芯片內(nèi)集成了高性能的自校準(zhǔn)多通道ADC(8通道12位高精度)、2個(gè)12位DAC以及可編程的8位MCU(與8051兼容)。片內(nèi)
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