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羅德與施瓦茨推出全新PVT360A一體式解決方案,適用于FR1基站、小基站和射頻元器件的表征和生產(chǎn)測(cè)試
為了對(duì)各種類(lèi)型的5G FR1基站和小基站進(jìn)行高速、高吞吐量測(cè)試,以及對(duì)射頻元器件進(jìn)行表征或生產(chǎn)測(cè)試,羅 德與施瓦茨(以下簡(jiǎn)稱(chēng)"R&S”公司)新推出R&S PVT360A性能矢量測(cè)試儀。在一個(gè)相對(duì)小的占用尺寸內(nèi),這臺(tái) 緊湊的單表憑借其優(yōu)良的信號(hào)生成和分析性能滿(mǎn)足了測(cè)試信號(hào)中最小的誤差矢量幅度(EVM)和高測(cè)試吞吐量 等測(cè)試項(xiàng)目的苛刻要求。可選的第二路信號(hào)發(fā)生和分析模塊可以實(shí)現(xiàn)多端口元器件測(cè)試,支持True MIMO測(cè)試 或直接將測(cè)試能力提高一倍。
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信號(hào)完整性問(wèn)題有哪些
當(dāng)今的電子設(shè)計(jì)工程師可以分成兩種，一種是已經(jīng)遇到了信號(hào)完整性問(wèn)題，一種是將要遇到信號(hào)完整性問(wèn)題。
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