可拆卸的示波器探頭在測(cè)試時(shí)會(huì)對(duì)被測(cè)電路產(chǎn)生擾動(dòng),當(dāng)探頭移走后,電路的工作條件會(huì)發(fā)生改變。試想一下一個(gè)來自于探頭的10PF負(fù)載會(huì)對(duì)高速線路產(chǎn)生怎樣的影響。嵌入式的探測(cè)裝置可以使用電路在任何時(shí)候處于同樣的工作
關(guān)鍵字:實(shí)時(shí)性能 嵌入式產(chǎn)品開發(fā)者在選擇嵌入式產(chǎn)品RTOS時(shí),實(shí)時(shí)性能是最重要的標(biāo)準(zhǔn)之一。嵌入市場(chǎng)研究公司Evans Data和Venture Development(VDC)最新的研究報(bào)告稱,“實(shí)時(shí)性能”是開發(fā)者選擇商用實(shí)時(shí)操作
高通嵌入式連接模塊的Gobi 3000技術(shù)
TI可以算是ARM困難時(shí)期的貴人,當(dāng)年就是因?yàn)門I使用ARM內(nèi)核開發(fā)了諾基亞手機(jī)用的芯片,使得ARM得以進(jìn)入移動(dòng)市場(chǎng),而這個(gè)市場(chǎng)正是ARM得以發(fā)跡的主力市場(chǎng)。而有趣的是當(dāng)年為何會(huì)選擇ARM,據(jù)說也是因?yàn)門I在DSP領(lǐng)域已經(jīng)取
可拆卸的示波器探頭在測(cè)試時(shí)會(huì)對(duì)被測(cè)電路產(chǎn)生擾動(dòng),當(dāng)探頭移走后,電路的工作條件會(huì)發(fā)生改變。試想一下一個(gè)來自于探頭的10PF負(fù)載會(huì)對(duì)高速線路產(chǎn)生怎樣的影響。嵌入式的探測(cè)裝置可以使用電路在任何時(shí)候處于同樣的工作
2011年12月15日下午,ARM與深圳職業(yè)技術(shù)學(xué)院共同舉行ARM開發(fā)工具實(shí)驗(yàn)室掛牌儀式。ARM中國總裁吳雄昂先生、ARM大學(xué)項(xiàng)目經(jīng)理時(shí)昕先生、ARM公司開發(fā)系統(tǒng)商務(wù)經(jīng)理趙慧波先生、億道電子CEO鐘景維先生以及深圳職業(yè)技術(shù)學(xué)院
本文主要探討了DC-DC應(yīng)用中轉(zhuǎn)換器功率級(jí)選擇的影響。 先進(jìn)嵌入式DC-DC轉(zhuǎn)換器的要求 許多工業(yè)系統(tǒng),如測(cè)試測(cè)量設(shè)備,都需要嵌入式DC-DC轉(zhuǎn)換器,是因?yàn)檫@些應(yīng)用所需的計(jì)算能力日益增加。這種計(jì)算能力由DSP 、FPGA 、
本文主要探討了DC-DC應(yīng)用中轉(zhuǎn)換器功率級(jí)選擇的影響?! ∠冗M(jìn)嵌入式DC-DC轉(zhuǎn)換器的要求 許多工業(yè)系統(tǒng),如測(cè)試測(cè)量設(shè)備,都需要嵌入式DC-DC轉(zhuǎn)換器,是因?yàn)檫@些應(yīng)用所需的計(jì)算能力日益增加。這種計(jì)算能力由DSP 、FPGA 、
本文主要探討了DC-DC應(yīng)用中轉(zhuǎn)換器功率級(jí)選擇的影響。 先進(jìn)嵌入式DC-DC轉(zhuǎn)換器的要求 許多工業(yè)系統(tǒng),如測(cè)試測(cè)量設(shè)備,都需要嵌入式DC-DC轉(zhuǎn)換器,是因?yàn)檫@些應(yīng)用所需的計(jì)算能力日益增加。這種計(jì)算能力由DSP 、FPGA 、
一種基于ARM和FPGA的嵌入式高速圖像采集存儲(chǔ)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
基于嵌入式的MP3音頻點(diǎn)播系統(tǒng)設(shè)計(jì)
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一種嵌入式GUI的研究與應(yīng)用
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適用于控制永磁無刷直流電機(jī)的嵌入式微控制器
淺談嵌入式實(shí)時(shí)系統(tǒng)及其在通信系統(tǒng)中的應(yīng)用
嵌入式大戰(zhàn),TI何去何從?
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