在集成電路(IC)設(shè)計(jì)領(lǐng)域,隨著工藝節(jié)點(diǎn)的不斷縮小和設(shè)計(jì)復(fù)雜度的急劇增加,傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證流程面臨著巨大的挑戰(zhàn)。左移(Shift Left)策略作為一種新興的設(shè)計(jì)方法,旨在將驗(yàn)證活動(dòng)提前到設(shè)計(jì)流程的早期階段,以便盡早發(fā)現(xiàn)和解決問(wèn)題,從而降低后期修復(fù)成本,提高設(shè)計(jì)質(zhì)量和效率。Calibre DesignEnhancer作為一款先進(jìn)的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)工具,提供了強(qiáng)大的早期EMIR(電遷移/電壓降/可靠性)簽核驗(yàn)證功能,為左移策略的實(shí)施提供了有力支持。