擴展電阻技術(shù)(spreading resistance profile,SRP)由于其優(yōu)越的空間分辨率越來越廣泛地應(yīng)用在外延片和IC 圖形片測試中。SRP 技術(shù)既可以測量外延片縱向電阻變化,也可以測量外延層厚度、過渡區(qū)及夾層寬度等。四探針最小的測量體積約為5 ×10-8 cm3,而最新發(fā)展的擴展電阻
泰克全棧式電源測試解決方案來襲,讓AI數(shù)據(jù)中心突破性能極限
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