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新型工業(yè)掃描電鏡（SEM）的特色突破
工業(yè)掃描電鏡作為微觀世界“眼見為實”的儀器，在近二十年發(fā)展歷程中性能逐步提高，卻仍有空間進行0到1的原創(chuàng)革新。 工業(yè)電鏡為我國新型產(chǎn)業(yè)從“跟跑、并跑&rdqu
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掃描、透射電鏡、能譜儀等電子顯微學發(fā)展探討
近日，“2012年度北京市電子顯微學年會”成功召開，共有200多位專家與會，共同就北京電子顯微學的學術及技術水平，以及在材料科學、生命科學等領域的應用、發(fā)展和交流等進行交流探討。此次會議由北京市電鏡學會、北京
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愛德萬測試推出全新的晶圓掃描電鏡E3310
業(yè)內(nèi)領先的測量儀器供應商愛德萬測試集團于2012年11月14日推出全新的多視覺測量掃描電子顯微鏡(MVM-SEM: Multi-Vision Metrology Scanning Electron Microscope)：晶圓掃描電鏡E3310，利用愛德萬測試專有的電子束
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掃描電子顯微鏡的特點及工作原理
2.4.1 掃描電鏡的特點 與光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 (二) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片。 (三) 樣品可
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掃描電子顯微鏡原理和應用
掃描電子顯微鏡原理和應用 2.4.1 掃描電鏡的特點 與光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 (二) 樣品制備過程簡單，
