概述 如果一個(gè)新產(chǎn)品在電磁干擾(EMI )預(yù)兼容測(cè)試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試中失敗,進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。而近場(chǎng)探頭配合頻譜分析儀查找干擾源,并驗(yàn)證改進(jìn)效果是最常見(jiàn)易行的方法?! D一 安捷倫X系列信號(hào)分
概述 如果一個(gè)新產(chǎn)品在電磁干擾(EMI)預(yù)兼容測(cè)試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試中失敗,進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。而近場(chǎng)探頭配合頻譜分析儀查找干擾源,并驗(yàn)證改進(jìn)效果是最常見(jiàn)易行的方法。 ▲圖一