是德科技(Keysight Technologies, Inc.)近日推出全新的 4881HV 高壓晶圓測(cè)試系統(tǒng),進(jìn)一步擴(kuò)展了其半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品組合。該解決方案通過在一次性測(cè)試中高效完成高達(dá)3kV的高低壓參數(shù)測(cè)試,從而顯著提升了功率半導(dǎo)體制造商的生產(chǎn)效率。
今天,小編將在這篇文章中為大家?guī)硇酒瑴y(cè)試的有關(guān)報(bào)道,通過閱讀這篇文章,大家可以對(duì)芯片測(cè)試具備清晰的認(rèn)識(shí),主要內(nèi)容如下。
晶圓探針測(cè)試主要設(shè)備有探針測(cè)試臺(tái),探針測(cè)試機(jī),探針測(cè)試卡三部分,全部由測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用測(cè)試程序來執(zhí)行測(cè)試。