當(dāng)今的嵌入式設(shè)計(jì)工程師在面臨微處理器、FPGA、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) 和數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC) 等等集成電路帶來了獨(dú)特的測量挑戰(zhàn)中,有時(shí)需要解碼兩個(gè)IC 之間的SPI 總線,同時(shí)在同一塊系統(tǒng)電路板上觀察ADC 的輸
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