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壓敏電阻（MOV）的選型誤區(qū)，通流容量、殘壓與老化特性的動態(tài)測試方法
在電子設備的過壓保護體系中，壓敏電阻(Metal Oxide Varistor, MOV)如同電路的“安全氣囊”，其性能直接決定設備在雷擊、靜電、開關浪涌等瞬態(tài)高壓下的生存能力。然而，實際應用中，工程師常因?qū)诵膮?shù)理解偏差、測試方法不嚴謹，導致選型失誤或性能誤判。本文將深度解析壓敏電阻選型中的三大誤區(qū)，并揭示通流容量、殘壓與老化特性的動態(tài)測試方法。
在電子設備的過壓保護體系中，壓敏電阻(Metal Oxide Varistor, MOV)如同電路的“安全氣囊”，其性能直接決定設備在雷擊、靜電、開關浪涌等瞬態(tài)高壓下的生存能力。然而，實際應用中，工程師常因?qū)诵膮?shù)理解偏差、測試方法不嚴謹，導致選型失誤或性能誤判。本文將深度解析壓敏電阻選型中的三大誤區(qū)，并揭示通流容量、殘壓與老化特性的動態(tài)測試方法。
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