現(xiàn)在經(jīng)常使用三種測試電路拓撲對運算放大器 DC 參數(shù)進行工作臺及生產(chǎn)測試。這三種拓撲為雙運算放大器測試環(huán)路、自測試環(huán)路(有時稱故障求和點測試環(huán)路)和三運算放大器環(huán)路。您可使用這些電路測試 DC 參
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