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測試覆蓋率

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提高DFT測試覆蓋率的方法

　伴隨著現(xiàn)代大規(guī)模集成電路制造工藝的快速發(fā)展，設計工程師必需直面芯片制造過程中可能產生的物理缺陷。現(xiàn)今流行的可測試性設計(DFT：Design For Testability)應運而生，并為保證芯片的良品率擔任著越

測試測量
2018-06-22

dft 測試覆蓋率

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