深空探測(cè)器PCB抗輻照設(shè)計(jì)：屏蔽層拓?fù)鋬?yōu)化與單粒子效應(yīng)容錯(cuò)布局

深空探測(cè)任務(wù)是人類探索宇宙奧秘、拓展認(rèn)知邊界的重要途徑。然而，深空環(huán)境充滿了高能粒子輻射，如質(zhì)子、重離子等，這些輻射會(huì)對(duì)探測(cè)器中的電子系統(tǒng)，尤其是印刷電路板（PCB）造成嚴(yán)重影響。高能粒子可能引發(fā)單粒子效應(yīng)（SEE），導(dǎo)致電路邏輯錯(cuò)誤、數(shù)據(jù)丟失甚至器件損壞。因此，開(kāi)展深空探測(cè)器PCB抗輻照設(shè)計(jì)，通過(guò)屏蔽層拓?fù)鋬?yōu)化與單粒子效應(yīng)容錯(cuò)布局，對(duì)于保障探測(cè)器的可靠運(yùn)行至關(guān)重要。