-
5分鐘學(xué)會(huì)溫升測(cè)試，看這一篇就夠了
產(chǎn)品工作時(shí)可被接觸到的部分,如果溫度過(guò)高可能會(huì)造成人身傷害;而且設(shè)備內(nèi)部過(guò)高的溫度也會(huì)影響產(chǎn)品性能，甚至導(dǎo)致絕緣等級(jí)下降或者增加產(chǎn)品機(jī)械的不穩(wěn)定性。因此在產(chǎn)品設(shè)計(jì)過(guò)程中，溫升實(shí)驗(yàn)是保證產(chǎn)品能夠安全穩(wěn)定工作，需要考慮的一個(gè)重要步驟!
-
PCB熱設(shè)計(jì)的兩種常用檢驗(yàn)方法
熱電現(xiàn)象的實(shí)際應(yīng)用當(dāng)然是利用熱電偶測(cè)量溫度。電子能量與散射之間的復(fù)雜關(guān)系，使得不同金屬的熱電勢(shì)彼此不同。
-
溫升測(cè)試與環(huán)境溫度測(cè)試的區(qū)別及聯(lián)系
一到夏季，工程師們總會(huì)為電機(jī)過(guò)熱而煩惱。但大家都知道衡量電機(jī)發(fā)熱程度是用“溫升”而不是用“溫度”。電機(jī)測(cè)試中涉及到溫度的測(cè)試主要時(shí)溫升測(cè)試及環(huán)境溫度測(cè)試，本文主要介紹兩者的區(qū)別和聯(lián)
- 得捷芯聞解碼研習(xí)站第一期：探索能源采集芯片的奧義
- 了解華邦優(yōu)質(zhì)技術(shù)資源， 闖三關(guān)，驗(yàn)證您的內(nèi)存/存儲(chǔ)達(dá)人身份
- ST超低功耗MCU來(lái)襲，挑戰(zhàn)趣味游戲，見(jiàn)證STM32U3的電池增壽能力
- PI邀您探索神秘節(jié)能空間，點(diǎn)亮你的專屬“智慧客廳”
- 基恩士新型顯微系統(tǒng)產(chǎn)品“VHX-X1系列”來(lái)襲，填寫(xiě)有獎(jiǎng)問(wèn)卷
- STM32C0系列MCU新品來(lái)襲，更高性能+更低成本，你值得擁有
- 挑戰(zhàn)趣味測(cè)試，驗(yàn)證您是存儲(chǔ)達(dá)人還是內(nèi)存大神
