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一種基于標準庫單元的集成電路老化檢測方案
摘 要：集成電路老化的影響，隨著集成工藝尺寸越來越小而越來越明顯。其主要影響表現(xiàn)在增加了電路元件的輸入- 輸出信號的延遲，從而降低了電路工作能力。提出一種基于標準庫單元的老化監(jiān)測，并介紹本設計的簡單性和靈活性。設計集成電路時可以設計使用不同的老化監(jiān)測模塊，通過閱讀放置在每個監(jiān)控寄存器中的“年齡代碼”來確定電路元器件的“年齡”，從而預防和監(jiān)測電路的故障。
摘 要：集成電路老化的影響，隨著集成工藝尺寸越來越小而越來越明顯。其主要影響表現(xiàn)在增加了電路元件的輸入- 輸出信號的延遲，從而降低了電路工作能力。提出一種基于標準庫單元的老化監(jiān)測，并介紹本設計的簡單性和靈活性。設計集成電路時可以設計使用不同的老化監(jiān)測模塊，通過閱讀放置在每個監(jiān)控寄存器中的“年齡代碼”來確定電路元器件的“年齡”，從而預防和監(jiān)測電路的故障。
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