-
焦度計(jì)的測(cè)量誤差和校正方法研究
摘要:本文依據(jù)焦度計(jì)側(cè)量眼鏡片頂焦度(d)的光學(xué)原理，分析了測(cè)量誤差來(lái)源并給出了校正方法。由于被測(cè)鏡 片的后表面曲率(彎度)各不相同，致便鏡片后頂點(diǎn)與焦度計(jì)物鏡后焦點(diǎn)不相重合，因而造成測(cè)量誤差。
- 得捷芯聞解碼研習(xí)站第一期：探索能源采集芯片的奧義
- 了解華邦優(yōu)質(zhì)技術(shù)資源， 闖三關(guān)，驗(yàn)證您的內(nèi)存/存儲(chǔ)達(dá)人身份
- ST超低功耗MCU來(lái)襲，挑戰(zhàn)趣味游戲，見(jiàn)證STM32U3的電池增壽能力
- PI邀您探索神秘節(jié)能空間，點(diǎn)亮你的專(zhuān)屬“智慧客廳”
- 基恩士新型顯微系統(tǒng)產(chǎn)品“VHX-X1系列”來(lái)襲，填寫(xiě)有獎(jiǎng)問(wèn)卷
- STM32C0系列MCU新品來(lái)襲，更高性能+更低成本，你值得擁有
- 挑戰(zhàn)趣味測(cè)試，驗(yàn)證您是存儲(chǔ)達(dá)人還是內(nèi)存大神
