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物理層測(cè)試

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USB3.0的物理層測(cè)試探討

USB簡(jiǎn)介 USB(Universal Serial Bus)即通用串行總線，用于把鍵盤、鼠標(biāo)、打印機(jī)、掃描儀、數(shù)碼相機(jī)、MP3、U盤等外圍設(shè)備連接到計(jì)算機(jī)，它使計(jì)算機(jī)與周邊設(shè)備的接口標(biāo)準(zhǔn)化。在USB1.1版本中支持兩種速率

測(cè)試測(cè)量
2018-11-26

usb3.0 物理層測(cè)試
DigRF的物理層測(cè)試方法

DigRF組織在V1和V3時(shí)代時(shí)由于沒(méi)有并入MIPI組織，所以其物理層采用的是自定義的物理層。而在V4時(shí)DigRF WorkGroup主要致力于協(xié)議層標(biāo)準(zhǔn)的制定，物理層采用的是MIPI組織的M-PHY的物理層標(biāo)準(zhǔn)，因此DigRF V1/V3/V4的各個(gè)版

測(cè)試測(cè)量
2018-11-06

digrf 物理層測(cè)試
胡為東系列文章之五--USB 3.0物理層測(cè)試中的一致性

測(cè)試測(cè)量
2018-07-12

USB 3 0 胡為東物理層測(cè)試

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