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PXI vs 獨(dú)立式VNA，高速數(shù)字電路測試中的性能、靈活性與TCO權(quán)衡
在高速數(shù)字電路測試領(lǐng)域，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)是不可或缺的“信號偵探”，其性能直接影響產(chǎn)品良率與研發(fā)效率。面對5G通信、光子集成電路(PIC)等高密度、高頻率測試需求，工程師需在PXI模塊化架構(gòu)與獨(dú)立式VNA之間做出關(guān)鍵抉擇。這場技術(shù)博弈的核心，在于平衡性能、靈活性、總擁有成本(TCO)三大維度。
