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常用電子測(cè)試設(shè)備介紹和使用說(shuō)明
在電子工程領(lǐng)域，測(cè)試與測(cè)量是確保設(shè)備性能、質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵步驟。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，各種先進(jìn)的電子測(cè)試設(shè)備應(yīng)運(yùn)而生，為工程師們提供了強(qiáng)大的工具。本文將介紹幾種常用的電子測(cè)試設(shè)備，包括萬(wàn)用表、示波器、頻譜分析儀、邏輯分析儀、信號(hào)發(fā)生器、噪聲測(cè)試儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻率計(jì)、功率計(jì)和溫度計(jì)，并簡(jiǎn)要說(shuō)明它們的使用方法及注意事項(xiàng)。
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Pickering集團(tuán)于2025年1月在馬來(lái)西亞檳城設(shè)立全新辦事處，旨在更好地服務(wù)于東南亞地區(qū)日益增長(zhǎng)的客戶需求。
經(jīng)驗(yàn)豐富的團(tuán)隊(duì)將為東南亞地區(qū)的客戶和合作伙伴提供更強(qiáng)大的本地支持
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無(wú)線綜測(cè)儀校準(zhǔn)中的故障排除策略
在現(xiàn)代通信和電子測(cè)試領(lǐng)域，無(wú)線綜測(cè)儀作為關(guān)鍵的測(cè)試設(shè)備，其準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對(duì)于確保產(chǎn)品質(zhì)量和通信系統(tǒng)的性能至關(guān)重要。然而，在使用過(guò)程中，無(wú)線綜測(cè)儀可能會(huì)遇到各種故障，這些故障可能源于設(shè)備本身的硬件問(wèn)題，也可能是由于操作不當(dāng)或環(huán)境因素引起的。因此，當(dāng)無(wú)線綜測(cè)儀在校準(zhǔn)過(guò)程中遇到設(shè)備故障時(shí)，采取科學(xué)合理的故障排除策略顯得尤為重要。本文將詳細(xì)介紹無(wú)線綜測(cè)儀校準(zhǔn)中遇到設(shè)備故障時(shí)的故障排除步驟和注意事項(xiàng)。
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英國(guó)Pickering公司將在慕尼黑上海電子展推出新型用于電子測(cè)試與驗(yàn)證的模塊化信號(hào)開關(guān)與仿真產(chǎn)品
2023慕尼黑上海電子展將于2023年7月11-13日在上海國(guó)家會(huì)展中心舉辦
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鼎陽(yáng)科技設(shè)立日本子公司 深化推進(jìn)全球化戰(zhàn)略布局
9月14日，鼎陽(yáng)科技發(fā)布公告，擬在日本設(shè)立子公司作為探索亞太市場(chǎng)的窗口，以完善公司全球市場(chǎng)布局及營(yíng)銷渠道，提升產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力和服務(wù)支持能力，進(jìn)一步提升公司市場(chǎng)占有率、綜合競(jìng)爭(zhēng)力和行業(yè)地位。
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英國(guó)Pickering公司推出新款高電壓LXI可擴(kuò)展矩陣平臺(tái) 尺寸最大300x4
英國(guó)Pickering公司作為生產(chǎn)用于電子測(cè)試及驗(yàn)證領(lǐng)域的信號(hào)開關(guān)與仿真解決方案的領(lǐng)導(dǎo)廠商，于今日推出新款65-218系列50x4單刀LXI矩陣插卡模塊。這類模塊可安裝在Pickering的65-200-002 LXI模塊化機(jī)箱中，共同構(gòu)建可擴(kuò)展的高電壓矩陣平臺(tái)，提供單元尺寸為50x4，總尺寸最大300x4的矩陣。這個(gè)系列的模塊提供冷切換電壓最大400VDC或750VDC(脈沖1kV)兩種版本，最大電流均為2A(切換和負(fù)載)以及最大60W的切換功率。這款單刀矩陣模塊使用高品質(zhì)的電磁繼電器，提供很長(zhǎng)的使用壽命。
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英國(guó)Pickering公司加入了OpenTAP 自動(dòng)化測(cè)試開源軟件合作伙伴計(jì)劃
英國(guó)Pickering公司作為生產(chǎn)用于電子測(cè)試及驗(yàn)證領(lǐng)域的信號(hào)開關(guān)與仿真解決方案的領(lǐng)導(dǎo)廠商，現(xiàn)已成為OpenTAP的合作伙伴。Pickering與其他一些知名測(cè)試公司共享開源代碼和軟件資源，因此用戶可以自由地貢獻(xiàn)、合作和創(chuàng)建自動(dòng)測(cè)試解決方案。
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Pickering Interfaces 推出帶有全面的繼電器自檢測(cè)功能的 256節(jié)點(diǎn)雙刀PXI開關(guān)矩陣
英國(guó)Pickering公司于近日發(fā)布了新款高密度雙刀PXI開關(guān)矩陣，可提供比同類競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品更高的性能。
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如何選擇信號(hào)發(fā)生器？
在電子測(cè)試和測(cè)量中，通常會(huì)要求信號(hào)源，生成只有從外部提供才有的信號(hào)。下面列出了為您的應(yīng)用選擇信號(hào)發(fā)生器時(shí)可能要考慮的常見功能。 一、采樣（時(shí)鐘）速率 采樣率通常用每秒百萬(wàn)樣點(diǎn)或每秒千兆樣點(diǎn)表示，指明了
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使用故障植入單元(FIU)進(jìn)行電子測(cè)試
1. 為何需要硬件故障植入？ 在許多硬件在環(huán)(HIL)試系統(tǒng)中，硬件故障植入用于在電子控制單元(ECU)與系統(tǒng)其他部分之間添加信號(hào)故障，進(jìn)而測(cè)試、特性描述或驗(yàn)證ECU在特定失效條件下的性能。 故障植入通常用
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羅德與施瓦茨公司發(fā)布全新探頭增強(qiáng)功率電子測(cè)試產(chǎn)品家族
全新R&S RT-ZHD系列高壓差分探頭針對(duì)現(xiàn)代功率電子的復(fù)雜測(cè)試需求而設(shè)計(jì)，支持高達(dá)6000V差分電壓測(cè)試。這一系列探頭提供高達(dá)200MHz帶寬、高共模抑制比(CMRR)以及可達(dá)0.5%的最佳DC測(cè)量精度。
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信號(hào)源的使用方法
在電子測(cè)試和測(cè)量中，經(jīng)常要求信號(hào)源，生成只有在外部提供時(shí)才會(huì)有的信號(hào)。信號(hào)源可以提供“已知良好”的信號(hào)，或者在其提供的信號(hào)中添加可重復(fù)的數(shù)量和類型已知的失真(或誤碼)。這是信號(hào)源最大的特點(diǎn)之一，因?yàn)閮H使用電路本身，通常不可能恰好在需要的時(shí)間和地點(diǎn)創(chuàng)建可預(yù)測(cè)的失真。
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邏輯分析儀與示波器的比較
在電子測(cè)試領(lǐng)域，示波器是最早的測(cè)試設(shè)備，起源于雷達(dá)掃描原理，對(duì)信號(hào)波形的采集和再現(xiàn)，源于傳統(tǒng)的模擬信號(hào)和模擬電路的測(cè)試基礎(chǔ)。
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Pickering Interfaces擴(kuò)展了PXI微波多路復(fù)用器產(chǎn)品種類
Pickering Interfaces作為業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的模塊化信號(hào)開關(guān)和電子測(cè)試與驗(yàn)證仿真設(shè)備供應(yīng)商，宣布為其40-785B PXI微波多路復(fù)用器產(chǎn)品新增了一系列50GHz的模塊。
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泰克最新任意波形發(fā)生器滿足高級(jí)研究、 雷達(dá)/電子戰(zhàn)爭(zhēng)設(shè)計(jì)中苛刻的信號(hào)發(fā)生要求
全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)解決方案提供商——泰克科技公司日前推出一款新型任意波形發(fā)生器(AWG)，以經(jīng)濟(jì)的價(jià)位提供了高信號(hào)保真度和擴(kuò)充能力，滿足高級(jí)研究、電子測(cè)試及雷達(dá)和電子戰(zhàn)爭(zhēng)(EW)系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測(cè)試中苛刻的信號(hào)發(fā)生需求。
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