沒有一些專門設(shè)備的情況下,測試和測量 IC 或電路在電源瞬態(tài)方面的性能是一項棘手的任務(wù)。輸入電壓源不僅需要以受控方式改變,而且還必須能夠提供足夠的電流來調(diào)節(jié)輸入電容并為被測電路供電。
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