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EMI輻射源定位：近場掃描與電磁拓撲反向追蹤算法的融合探索
在現(xiàn)代電子設備高度集成化和復雜化的背景下，電磁干擾（EMI）問題日益凸顯，它不僅會影響設備的性能與可靠性，還可能對周圍電子系統(tǒng)造成干擾，甚至危及人員安全。因此，精準定位EMI輻射源成為解決這一問題的關鍵環(huán)節(jié)。近場掃描與電磁拓撲反向追蹤算法作為兩種有效的技術手段，為EMI輻射源定位提供了有力支持。
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多板高速互連優(yōu)化：基于電磁拓撲的串擾抵消布線算法研究
隨著112G PAM4及224G SerDes技術的普及，多板高速互連系統(tǒng)的信號完整性面臨嚴峻挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)物理隔離方法受限于PCB空間與工藝成本，而基于電磁拓撲理論的串擾抵消算法通過數(shù)學建模與信號處理，為高密度互連提供了創(chuàng)新解決方案。本文結(jié)合電磁拓撲模型與神經(jīng)網(wǎng)絡技術，提出一種動態(tài)串擾抵消布線算法，并驗證其在高速背板系統(tǒng)中的有效性。
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