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運(yùn)放穩(wěn)定性設(shè)計的隱藏陷阱：相位裕度與容性負(fù)載補(bǔ)償實(shí)戰(zhàn)
在精密模擬電路設(shè)計中，運(yùn)放穩(wěn)定性問題常隱藏于看似合理的參數(shù)配置中。以經(jīng)典Sallen-Key二階低通濾波器為例，當(dāng)負(fù)載電容（CL）超過100pF時，未補(bǔ)償?shù)倪\(yùn)放可能因相位裕度不足（PM
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設(shè)計高穩(wěn)定性運(yùn)算放大器電路秘籍
在模擬電子的設(shè)計過程中，經(jīng)常會使用到運(yùn)算放大器，其中的負(fù)反饋更是家常便飯：負(fù)反饋可以抑制增益不穩(wěn)定，減小元器件引入的非線性誤差，減小溫漂、阻抗變換和擴(kuò)展頻帶等作用。然而，盡管負(fù)反饋的使用會使設(shè)計的電路
