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基于自適應(yīng)加權(quán)的模擬集成電路多目標優(yōu)化方法研究
摘 要：模擬集成電路的設(shè)計可以轉(zhuǎn)化為多目標優(yōu)化問題，電路的性能指標就是多目標優(yōu)化時的目標函數(shù)，而實現(xiàn)這一方法的關(guān)鍵是多目標優(yōu)化算法。文中采用自適應(yīng)加權(quán)和算法，該算法可準確、高效地求出Pareto最優(yōu)前沿。采用該算法，以一個兩級運算放大器為例，給出了自適應(yīng)加權(quán)和算法的優(yōu)化結(jié)果。
