利用機器學習加快TEM樣品制備
4月20日,賽默飛宣布推出Helios 5 EXL晶片雙束透射電子顯微鏡,旨在滿足半導體廠商隨著規(guī)模化經(jīng)營而不斷增加的樣品量以及相應的分析需求。
新一代儀器提升數(shù)據(jù)可靠性,控制圖像畸變≤1%。
泰克全棧式電源測試解決方案來襲,讓AI數(shù)據(jù)中心突破性能極限
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