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112G+通道去嵌誤差抑制：多端口TRL校準與頻變損耗補償模型
在高速數(shù)字通信領域，112G及以上速率的通道傳輸技術(shù)正逐漸成為主流。然而，隨著數(shù)據(jù)速率的提升，信號在傳輸過程中受到的干擾和損耗也愈發(fā)嚴重。通道去嵌誤差是影響高速信號完整性的關(guān)鍵因素之一，它會導致信號失真、眼圖惡化，進而降低通信系統(tǒng)的性能。多端口TRL（Thru-Reflect-Line）校準技術(shù)和頻變損耗補償模型為抑制112G+通道去嵌誤差提供了有效的解決方案。
