Breker 從事測(cè)試套件綜合業(yè)務(wù)。我們?yōu)楦鞣N環(huán)境生成測(cè)試內(nèi)容,包括基于 UVM 塊的模擬、SoC 環(huán)境、半導(dǎo)體的后硅環(huán)境,當(dāng)然,在 SoC 環(huán)境中,我們有許多應(yīng)用程序,例如緩存等的預(yù)制場(chǎng)景測(cè)試一致性、安全性測(cè)試,諸如此類。在 UVM 領(lǐng)域,我們生成適合 UVM 測(cè)試臺(tái)(現(xiàn)有 UVM 測(cè)試臺(tái))的基于塊的測(cè)試。我們所做的是在虛擬環(huán)境中生成序列集。