(文章來源:電子工程網(wǎng)?) 多點(diǎn)觸控已是當(dāng)今觸控技術(shù)開發(fā)者最熱衷的研究課題??此坪唵蔚挠|控動(dòng)作,其實(shí)背后隱藏著錯(cuò)綜復(fù)雜的運(yùn)作過程,包括將觸控動(dòng)作轉(zhuǎn)成數(shù)位訊號(hào),并推算觸碰位置,然后和主控端
電容式觸控技術(shù)中誤觸與偵測(cè)手指座標(biāo)位置所產(chǎn)生的鬼點(diǎn)(Ghost Position)問題,一直難以突破,為解決上述問題,提供用戶更佳的使用者經(jīng)驗(yàn),電容式觸控IC廠商紛紛從自電容(Self Capacitance)轉(zhuǎn)向新的互電容(Mutual Capa