基于量子計(jì)算的EDA算法初探：糾錯(cuò)電路綜合與門映射優(yōu)化

隨著量子比特保真度突破99.9%，量子計(jì)算正從實(shí)驗(yàn)室走向工程化應(yīng)用。本文提出一種基于量子計(jì)算的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（EDA）算法框架，聚焦量子糾錯(cuò)電路綜合與門映射優(yōu)化兩大核心問題。通過量子退火算法實(shí)現(xiàn)表面碼（Surface Code）穩(wěn)定器電路的拓?fù)鋬?yōu)化，結(jié)合變分量子本征求解器（VQE）進(jìn)行門級(jí)映射的能耗最小化。實(shí)驗(yàn)表明，該方法使糾錯(cuò)電路的量子比特開銷降低27%，門操作深度減少18%，為大規(guī)模量子芯片設(shè)計(jì)提供新范式。