車(chē)規(guī)級(jí)芯片HALT/HASS測(cè)試：多應(yīng)力耦合加速老化模型構(gòu)建

車(chē)規(guī)級(jí)芯片作為汽車(chē)電子系統(tǒng)的核心部件，其可靠性直接關(guān)系到汽車(chē)的安全性和性能。HALT（高加速壽命試驗(yàn)）和HASS（高加速應(yīng)力篩選）測(cè)試是提高車(chē)規(guī)級(jí)芯片可靠性的重要手段。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，芯片往往受到多種應(yīng)力的耦合作用，如溫度、濕度、振動(dòng)等。因此，構(gòu)建多應(yīng)力耦合加速老化模型對(duì)于準(zhǔn)確評(píng)估車(chē)規(guī)級(jí)芯片的可靠性具有重要意義。