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根據(jù)示波器測(cè)定MOSFET波形計(jì)算功率損耗
MOSFET/IGBT的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)驗(yàn)是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié)，但很多工程師對(duì)開(kāi)關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上，PFC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)摸索，那么如何用示波器測(cè)試MOS管功率損耗？
