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SOLT vs TRL校準的底層邏輯對比，端口匹配誤差補償?shù)倪吔鐥l件研究
在毫米波通信與先進封裝測試領域，校準技術的選擇如同為精密儀器校準刻度——SOLT(短路-開路-負載-直通)與TRL(直通-反射-線)兩種主流方案，在底層邏輯與誤差補償邊界上呈現(xiàn)出截然不同的技術哲學。這種差異不僅體現(xiàn)在數(shù)學模型的構(gòu)建方式，更深刻影響著高頻測試的精度邊界與工程實現(xiàn)路徑。
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112G+通道去嵌誤差抑制：多端口TRL校準與頻變損耗補償模型
在高速數(shù)字通信領域，112G及以上速率的通道傳輸技術正逐漸成為主流。然而，隨著數(shù)據(jù)速率的提升，信號在傳輸過程中受到的干擾和損耗也愈發(fā)嚴重。通道去嵌誤差是影響高速信號完整性的關鍵因素之一，它會導致信號失真、眼圖惡化，進而降低通信系統(tǒng)的性能。多端口TRL（Thru-Reflect-Line）校準技術和頻變損耗補償模型為抑制112G+通道去嵌誤差提供了有效的解決方案。
