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EDA環(huán)境銜接測量軟件 電子產(chǎn)品開發(fā)周期大幅縮短
消費性電子產(chǎn)品汰換周期越來越短，且功能復(fù)雜度不斷提高，使得系統(tǒng)研發(fā)人員面臨縮短產(chǎn)品開發(fā)時間的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。所幸，現(xiàn)今自動化測試系統(tǒng)已開始導(dǎo)入開放式FPGA，將有助EDA開發(fā)環(huán)境與測量軟件的整合，讓工程師可同時進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計與測試，加快研發(fā)時程。
消費性電子產(chǎn)品汰換周期越來越短，且功能復(fù)雜度不斷提高，使得系統(tǒng)研發(fā)人員面臨縮短產(chǎn)品開發(fā)時間的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。所幸，現(xiàn)今自動化測試系統(tǒng)已開始導(dǎo)入開放式FPGA，將有助EDA開發(fā)環(huán)境與測量軟件的整合，讓工程師可同時進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計與測試，加快研發(fā)時程。
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