-
電源測(cè)量小貼士（連載九）: EMI調(diào)試和預(yù)一致性測(cè)試
本文將重點(diǎn)考察EMI和RFI測(cè)試。由于測(cè)試難度和測(cè)試成本，這個(gè)階段經(jīng)常被忽略。但是，隨著設(shè)計(jì)期限的迫近，忽略這個(gè)步驟可能會(huì)導(dǎo)致意外事件和延遲。我們強(qiáng)烈推薦在設(shè)計(jì)早期測(cè)試EMC問(wèn)題，以避免不必要的
- 得捷芯聞解碼研習(xí)站第一期：探索能源采集芯片的奧義
- 了解華邦優(yōu)質(zhì)技術(shù)資源， 闖三關(guān)，驗(yàn)證您的內(nèi)存/存儲(chǔ)達(dá)人身份
- ST超低功耗MCU來(lái)襲，挑戰(zhàn)趣味游戲，見(jiàn)證STM32U3的電池增壽能力
- PI邀您探索神秘節(jié)能空間，點(diǎn)亮你的專屬“智慧客廳”
- 基恩士新型顯微系統(tǒng)產(chǎn)品“VHX-X1系列”來(lái)襲，填寫有獎(jiǎng)問(wèn)卷
- STM32C0系列MCU新品來(lái)襲，更高性能+更低成本，你值得擁有
- 挑戰(zhàn)趣味測(cè)試，驗(yàn)證您是存儲(chǔ)達(dá)人還是內(nèi)存大神
