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可控與靈活性軟件解FPGA測(cè)試之憂(yōu)
隨著FPGA接口的速度提高，高速接口的測(cè)試、PCB板級(jí)的測(cè)試、EMI/EMC的測(cè)試等，這些測(cè)試的難度會(huì)越來(lái)越突出。目前FPGA所需的嵌入式邏輯分析工具一般由FPGA廠(chǎng)家自行提供，但無(wú)法滿(mǎn)足通用性要求;而外部測(cè)試工具除提供更
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