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Keithley技術(shù)文獻：半導體C-V測量基礎(chǔ)

通用測試電容-電壓（C-V）測試廣泛用于測量半導體參數(shù)，尤其是MOSCAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。此外，利用C-V測量還可以對其他類型的半導體器件和工藝進行特征分析，包括雙極結(jié)型

功率器件
2018-10-16

c-v MOSFET 半導體電源技術(shù)解析 moscap 測量基礎(chǔ)

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