本設(shè)計(jì)實(shí)例分享一種電路測(cè)試器,可以夾在每顆PROM上進(jìn)行測(cè)試,不用將PROM從電路板上拔下。處理老舊技術(shù)會(huì)帶來有趣的挑戰(zhàn);雖然現(xiàn)代的可程式化元件透過JTAG或SPI介面很容易實(shí)
泰克全棧式電源測(cè)試解決方案來襲,讓AI數(shù)據(jù)中心突破性能極限
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