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直擊PXI TAC 2017：如何應(yīng)對智能時(shí)代下的測試挑戰(zhàn)？
今年正值PXI技術(shù)誕生20周年之際，由NI（美國國家儀器，National Instruments，簡稱“NI”）公司主辦的PXI TAC 2017近日在深圳隆重召開。作為業(yè)界最具影響力的PXI專業(yè)論壇，PXI TAC 已經(jīng)連續(xù)舉辦14年，這次PXI TAC回歸本質(zhì)，以用戶為核心，聚焦用戶應(yīng)用，讓用戶看到最前沿的智能測試技術(shù)和趨勢，以及在熱點(diǎn)應(yīng)用上的方向。
