本文描述了一種通用的集成電路RF噪聲抑制能力測量技術(shù)。RF抑制能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下,該RF電平代表電路工作時(shí)可能受到的干擾強(qiáng)度。這樣就產(chǎn)生了一個標(biāo)
數(shù)字射頻(RF)技術(shù)迅速發(fā)展帶來一個結(jié)果,就是頻譜越來越擁擠,使用效率也越來越高;與此同時(shí),現(xiàn)代RF信號也變得異常復(fù)雜。
測量傳統(tǒng)RF信號時(shí)并不能經(jīng)常達(dá)到預(yù)期效果,如常用的單端式傳輸線中的微帶線架構(gòu)間的傳導(dǎo)板常被視為理想接地,但由于許多電路器件以其為參考電位的操作模式,從而導(dǎo)致板上產(chǎn)生電流。而且微帶線本身也會受磁場干擾而成為干擾源并影響到其他傳輸線或器件,這些問題都可以采用對稱性的平衡式器件來解決。
現(xiàn)代RF系統(tǒng),如超導(dǎo)量子比特控制器、相陣?yán)走_(dá)、MIMO收發(fā)機(jī)、智能天線發(fā)射機(jī)和捷變超寬帶擴(kuò)頻通信,都基于寬帶、相干、多通道結(jié)構(gòu)。傳統(tǒng)方式采用矢量信號發(fā)生器及IQ 調(diào)制器和模擬合成器生成RF信號,由于校準(zhǔn)復(fù)雜及大規(guī)模實(shí)現(xiàn)此類系統(tǒng)的成本而存在著許多重大局限。