本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲抑制測量技術(shù)。RF抗干擾能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下,RF電平代表電路工作時可能受到的干擾強度。從而產(chǎn)生了一個標(biāo)準(zhǔn)化、結(jié)構(gòu)化的測試方法,使用這種方法能夠得到在質(zhì)量分析中可重復(fù)的測試結(jié)果。這樣的測試結(jié)果有助于IC選型,從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路。
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