摘要 IP核的廣泛應(yīng)用提高了電路集成的效率。由于眾多功能各異的IP核集成在電路中,完善的測(cè)試機(jī)制是確保其正常工作的前提。因此,如何對(duì)IP核進(jìn)行測(cè)試成為復(fù)用IP核技術(shù)必須解決的問題。IEEE Std 1500提供了IP核的測(cè)試
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