摘要:介紹一種將檢測的輸入正弦信號與基準(zhǔn)正弦信號按一定關(guān)系進(jìn)行相位比較,進(jìn)而產(chǎn)生一直流電壓信號。該信號送往控制系統(tǒng)進(jìn)行相位校正,對其原理、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及制作工藝過程進(jìn)行了詳細(xì)的敘述,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明它可工作在
摘要:介紹一種將檢測的輸入正弦信號與基準(zhǔn)正弦信號按一定關(guān)系進(jìn)行相位比較,進(jìn)而產(chǎn)生一直流電壓信號。該信號送往控制系統(tǒng)進(jìn)行相位校正,對其原理、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及制作工藝過程進(jìn)行了詳細(xì)的敘述,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明它可工作在
在電源系統(tǒng)中,MOSFET驅(qū)動器一般僅用于將PWM控制IC的輸出信號轉(zhuǎn)換為高速的大電流信號,以便以最快的速度打開和關(guān)閉MOSFET。由于驅(qū)動器IC與MOSFET的位置相鄰,所以就需要增加智能保護(hù)功能以增強(qiáng)電源的可靠性?! CD
大多數(shù)模擬集成電路(比較器、運(yùn)算放大器、儀表放大器、基準(zhǔn)、濾波器等)都是用來處理電壓信號的。至于處理電流信號的器件,設(shè)計(jì)師們的選擇卻少得可憐,而且還要面對多得多的難題。這很不幸,因?yàn)橹苯颖O(jiān)視和測量電流
一個量程10千克的秤若能分辨出1克的重量變化,那么這個秤的主要組件常常是增量累加模數(shù)轉(zhuǎn)換器。設(shè)計(jì)師需要溫度測量的精確度達(dá)到0.01度時,增量累加ADC也常常成為首選方案。增量累加ADC還能夠取代那些前面加有一個增益
隨著OPC規(guī)范的普及和推廣,OPC接口技術(shù)已被大量用于數(shù)據(jù)采集、自動化控制及生產(chǎn)信息管理中。當(dāng)我們的應(yīng)用程序作為OPC客戶端與OPC服務(wù)器進(jìn)行數(shù)據(jù)交互時,OPC客戶端的兼容性和對特殊情況的處理能力將直接影響應(yīng)用過程
我們家庭、辦公室和車輛中電力電子應(yīng)用的持續(xù)增長,推動著走向新材料和更高效率電源組件這一趨勢的發(fā)展。高功率、高溫的應(yīng)用帶來了對電力電子系統(tǒng)更大的需求,從而導(dǎo)致了器件因長期暴露在各種惡劣環(huán)境中出現(xiàn)故障而引
電路的功能在邏輯電路中,有時需要同時觀測多個信號,若使用邏輯顯示器當(dāng)然方便,但本電路采用了普通示波器,對4路或8路信號進(jìn)行掃描,是一種顯示邏輯電平的轉(zhuǎn)換電路。為了使波形在CRT顯示器上靜止,需要同步信號,可
電路的功能脈沖寬度調(diào)制式D-A轉(zhuǎn)換器多用于慢速響應(yīng)的電源控制電路。因?yàn)檩敵鲭妷喝Q于占空比,所以只要調(diào)準(zhǔn)滿量程電壓,就可成為高精度DAC。電路的選用普通器件,能以12位分辨率選定0~+10V電壓。電路工作原理輸入PW
采用時間交替模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),以每秒數(shù)十億次的速度采集同步采樣模擬信號,對于設(shè)計(jì)工程師來說,這是一項(xiàng)極大的技術(shù)挑戰(zhàn),需要非常完善的混合信號電路。時間交替的根本目標(biāo)是通過增加轉(zhuǎn)換器,在不影響分辨率和動態(tài)性
隨著近幾年對速率的要求快速提高,新的總線協(xié)議不斷的提出更高的速率。傳統(tǒng)的總線協(xié)議已經(jīng)不能夠滿足要求了。串行總線由于更好的抗干擾性,和更少的信號線,更高的速率獲得了眾多設(shè)計(jì)者的青睞。而串行總線又尤以差分
1 簡介 近來,三維顯示技術(shù)受到了極大的關(guān)注,并有可能在將來帶來一個可觀的市場。三維顯示依據(jù)實(shí)現(xiàn)方法分為多種,例如:偏振眼鏡法式、頭盔式、障柵式、棱鏡式、體三維、全息立體等等。目前的立體顯示技術(shù),仍然
分析了珠江三角洲農(nóng)業(yè)地質(zhì)與生態(tài)地球化學(xué)調(diào)查評價信息系統(tǒng)的建設(shè)目標(biāo),遵循軟件工程理論和面向?qū)ο蠓椒?,設(shè)計(jì)了該系統(tǒng)的體系結(jié)構(gòu)和功能,并基于MAPGIS 7.0和Microsoft .NET平臺實(shí)現(xiàn)了該系統(tǒng),最后研究了系統(tǒng)建設(shè)中的數(shù)據(jù)組織與存儲、GIS數(shù)據(jù)加載與顯示以及評價模型的實(shí)現(xiàn)三個關(guān)鍵問題。為其他類似GIS系統(tǒng)的建設(shè)提供參考或借鑒。
1.前言 為了滿足大型光學(xué)系統(tǒng)對大口徑高精度平面光學(xué)元部件的需要,環(huán)行拋光技術(shù)越來越廣泛地應(yīng)用到實(shí)際光學(xué)元部件的生產(chǎn)中。采用環(huán)行拋光技術(shù)(本文中主要涉及大玻璃校正盤修磨的單環(huán)行拋光機(jī))加工的光學(xué)元部件
1 引言 在數(shù)字化飛速發(fā)展的今天,人們對微處理器的性能要求也越來越高。作為衡量微處理器 性能的主要標(biāo)準(zhǔn),主頻和乘法器運(yùn)行一次乘法的周期息息相關(guān)。因此,為了進(jìn)一步提高微處 理器性能,開發(fā)高速高精度的乘法器