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設計一個無校準RTD溫度測量系統(tǒng)，第四部分誤差校準和精度測試
接上一篇，盡管14條RTD測量通道的溫度測量誤差曲線具有一致的趨勢,但由于產(chǎn)量的變化,它們的斜率和截流量在一定程度上有所不同。為了對這一過程產(chǎn)生的所有RTD測量通道進行誤差補償,需要找到14條溫度測量誤差曲線所包圍的區(qū)域的中間曲線。更合適的方法是使用一個分段函數(shù)來描述錯誤函數(shù),它分為兩個部分:零和零。
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數(shù)據(jù)整合第二部分，什么是數(shù)據(jù)集成體系結構模式？
在本節(jié)中,我們將探究集成模式的數(shù)組,每個模式都是為了提供無縫集成解決方案而定制的。這些模式作為結構化的框架,促進了不同系統(tǒng)之間的聯(lián)系和數(shù)據(jù)交換。它們大致分為三類:
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數(shù)據(jù)整合第一部分，數(shù)據(jù)集成
數(shù)據(jù)治理 是一個由具有不同角色和責任的個人協(xié)作制定的框架。該框架旨在建立有助于各組織實現(xiàn)其目標的流程、政策、程序、標準和衡量標準。這些目標包括為業(yè)務運作提供可靠數(shù)據(jù)、建立問責制和權威性、開發(fā)評估業(yè)績的準確分析方法、遵守監(jiān)管要求、保護數(shù)據(jù)、確保數(shù)據(jù)隱私以及支持數(shù)據(jù)管理生命周期。
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使用動態(tài)功率控制方案，降低IDAC驅(qū)動中的產(chǎn)生的熱量
當電流型DAC(IDAC)驅(qū)動它們的負載時,通道供電電壓(PVDS)和輸出負載電壓之間的差異會在負載上下降。這導致芯片內(nèi)功率耗散,因此可能導致模具溫度過高,影響可靠性,并降低整體系統(tǒng)效率。
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深入學習軟件組件認證的三個關鍵
人工智能軟件,特別是深學習組件,是目前實現(xiàn)自主汽車等自主系統(tǒng)的最先進和經(jīng)濟上可行的解決方案。然而,DL算法的性質(zhì)及其當前的實現(xiàn)與汽車、衛(wèi)星和火車等安全關鍵系統(tǒng)中嚴格的軟件開發(fā)過程不一致。
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通過熱點檢測防止產(chǎn)品的熱失控
隨著技術的進步,電子產(chǎn)品變得越來越強大和緊湊.這種上升的性能與規(guī)模比率是最終用戶的便利和成本的好消息,但它也會帶來一些可靠性問題。熱失控是當今最突出的問題之一。
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數(shù)字接口中的系統(tǒng)級噪聲如何導致串行閃存產(chǎn)生數(shù)據(jù)錯誤
在不斷追求系統(tǒng)更高性能的過程中,集成設備制造商(IDMS)已經(jīng)非常擅長開發(fā)數(shù)字接口,能夠在充滿挑戰(zhàn)的電力環(huán)境中高速運行。標準接口,如SPI和I2C,提供了一種相對簡單的方式,以可靠和有效的方式連接來自不同供應商的設備。其他類型的接口也是如此。
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通過異常檢測確保數(shù)據(jù)完整性是數(shù)據(jù)工程師需要掌握的基本工具
當前最有趨勢的機器學習和人工智能在不知疲倦地創(chuàng)新,為客戶提供最先進的解決方案。然而,在這一快速演變過程中,確保一個以高質(zhì)量和完整性為特征的穩(wěn)健數(shù)據(jù)宇宙是不可或缺的。雖然人們經(jīng)常把重點放在改進人工智能模型上,但原始數(shù)據(jù)集的重要性有時會被掩蓋。
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通過優(yōu)化單片機SPI驅(qū)動程序提高ADC吞吐量
在嵌入式系統(tǒng)中，使用單片機（MCU）通過SPI（Serial Peripheral Interface）接口與ADC（模擬到數(shù)字轉(zhuǎn)換器）通信時，優(yōu)化SPI驅(qū)動程序以提高ADC的吞吐量是一個重要的任務。以下是一些關鍵步驟和策略，可以幫助你實現(xiàn)這一目標：
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微小的變化為何能夠欺騙深度學習系統(tǒng)
深層次學習 是人工智能(AI)的一個基本組成部分。它的目的是使機器能夠執(zhí)行需要決策機制的任務,這些決策機制往往接近人類的推理機制。DL模型是許多先進應用的核心,如醫(yī)療診斷和自主駕駛。
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系統(tǒng)一級測試驅(qū)動發(fā)展的3個小貼士
近年來,我看到了嵌入式開發(fā)人員在使用單元測試和測試驅(qū)動開發(fā)(TDD)方面的興趣顯著提高。測試驅(qū)動開發(fā)有可能降低時間到市場和成本,同時提高整體產(chǎn)品質(zhì)量。使用TDD的開發(fā)人員通常編寫測試,使其失敗,然后只編寫生產(chǎn)代碼使測試通過。失敗的測試驅(qū)動代碼開發(fā)。
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詳細說明靜態(tài)分析如何提高嵌入式軟件測試的準確性
當嵌入式開發(fā)人員測試他們的軟件時,多種力量正在發(fā)揮作用。系統(tǒng)的復雜性越來越大--這是由于對計算工作量的要求越來越大、連通性越來越廣泛以及安全性和可靠性的提高--這使得開發(fā)人員更難根據(jù)需求驗證代碼。隨著發(fā)布時間的縮減,測試團隊很難適應傳統(tǒng)測試方法更大的復雜性和規(guī)模。
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用于電路分析和設計的SPISE仿真指南,進行深入直流掃描分析
回顧之前的直流掃描分析是一種特性,它允許模擬發(fā)電機電壓或電流值變化的電子電路,這一程序使人們能夠在單一圖表中獲得一個或多個理想值的趨勢。在這種情況下,x軸代表的不是時間,而是變化電壓的值,而y軸代表的是設計者所希望的任何其他電氣量。它是用"指令"。在實踐中,就好像你在運行許多模擬,在這些模擬中,你改變了一個參數(shù)的值。例如,如果您想運行從0V到5V的輸入電壓分析,可以在電路描述文件中使用以下命令:
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在API監(jiān)控和性能要求之間取得平衡
應用程序編程接口(APIS)在企業(yè)正在進行的數(shù)字化改造中發(fā)揮著核心作用,是應用程序、基礎設施和物聯(lián)網(wǎng)設備之間交換數(shù)據(jù)的渠道。如今,很多組織都向客戶和合作伙伴提供多種API,無論是內(nèi)部開發(fā)的還是開放的。然而,這些API通常是由不同的團隊構建的,使用不同的應用程序棧,遵循不同的開發(fā)計劃和發(fā)布程序,導致安全和監(jiān)督不一致。這使API成為一把雙刃劍,對安全構成各種挑戰(zhàn),例如:
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在車輛互聯(lián)網(wǎng)上應用MQTT
車輛互聯(lián)網(wǎng)是一種能夠?連接車輛 與道路基礎設施和其他設備實時通信。V2X包括V2V、V2I和V2P通信,使車輛能夠?qū)崟r地相互作用、基礎設施和行人。V2X技術旨在改善道路安全,減少交通擁堵,提高駕駛經(jīng)驗,并使自主駕駛能力成為可能。
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